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微分干涉金相顯微鏡供應(yīng) 該款微分干涉顯微鏡的設(shè)計(jì)原理是以平面偏振光為光源，光線經(jīng)棱鏡折射后分成兩束，在不同時(shí)間經(jīng)過樣品的相鄰部位，然后經(jīng)過另一棱鏡將這兩束光匯合，從而樣品中厚度上的微小差別就會轉(zhuǎn)化成明暗區(qū)別，增加了樣品反差，造成了三維立體感。

正置金相顯微鏡供應(yīng)MKL系列正置是針對半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的，作為高級用戶在使用時(shí)能夠體驗(yàn)其*性能，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測。本儀器采用了反射和透射兩種照明形式，在反射光照明下可進(jìn)行明暗場觀察和DIC觀察、偏光觀察。在透射光下作明場觀察。穩(wěn)定、高品質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)使成像更清晰

金相分析圖譜供應(yīng) 根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)GB 10651-89，美國標(biāo)準(zhǔn) ASTM：E45-87，主要適用于經(jīng)過延伸變形（如軋制、鍛造、冷拔等）的鋼材中非金屬夾雜物的顯微評定。檢驗(yàn)夾雜物一般同時(shí)檢驗(yàn)幾種類型的夾雜并經(jīng)常進(jìn)行淬火處理。鋼中主要的元素是鐵，但并非純鐵，其中會含有一定的雜質(zhì)，雜物共有四種，分為A、B、C、D四類，A代表硫化物，B代表氧化鋁，C代表硅酸鹽類，D代表球狀氧化

倒置金相顯微鏡供應(yīng) 本顯微鏡是用于鑒別和分析金屬內(nèi)部的結(jié)構(gòu)組織，為金屬物理學(xué)研究金相的重要工具，特別是鋼鐵、鍋爐、礦山、機(jī)床、工具、汽車、造船、軸承、柴油機(jī)、農(nóng)機(jī)等工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備。凡鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究、原材料的檢驗(yàn)或材料處理后的分析等均可使用本儀器。該儀器可配用攝像裝置，攝取金相圖譜。具有對圖譜進(jìn)行測量、分析、編輯、輸出、存儲、管理等功能。

電腦視頻顯微鏡廠家 實(shí)體圖像顯微鏡或數(shù)碼攝影實(shí)體顯微鏡，配置了高清晰度的圖像傳感攝像機(jī) （或數(shù)碼相機(jī)），可以將顯微成像由計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理、編輯、保存和輸出 （如打印等）或進(jìn)入多媒體系統(tǒng)及電子信箱。